[发明专利]熔石英元件表面损伤生长点的修复方法无效

专利信息
申请号: 201310153550.2 申请日: 2013-04-28
公开(公告)号: CN103232167A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 方周;陈顺利;赵元安;胡国行;刘晓凤;李大伟;邵建达 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C03C15/00 分类号: C03C15/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种熔石英元件表面损伤生长点的修复方法,包括熔石英表面损伤点的测量、飞秒激光修复损伤点、氢氟酸溶液腐蚀和清洗四步。采用飞秒激光修复损伤点能够避免热应力产生;氢氟酸溶液腐蚀能够去除飞秒激光作用后残留的再沉积物。实验测试表明经过本发明修复后,熔石英元件的激光损伤生长阈值得到大幅度提升,可延长元件的使用寿命,并且本发明具有重复性好、稳定性高的特点。
搜索关键词: 石英 元件 表面 损伤 生长点 修复 方法
【主权项】:
一种熔石英元件表面损伤生长点的修复方法,其特征在于包括以下步骤:①将熔石英基片分别用去离子水、碱性清洗剂、去离子水超声清洗各5分钟,在洁净室内自然晾干获得洁净的熔石英元件;采用波长为355纳米的Nd:YAG激光在熔石英元件表面辐照产生损伤点;采用光学显微镜、台阶仪对熔石英元件表面损伤点进行测量并记录损伤点的位置、横向尺寸及纵向深度;②采用800纳米飞秒激光修复装置对熔石英表面损伤点进行“光栅扫描”,去除损伤:所述的飞秒激光修复装置的构成包含800纳米钛宝石飞秒激光器(1),沿该激光器(1)输出光束的前进方向依次是第一反射镜(2)、机械快门(3)、第二反射镜(4)、能量衰减系统(5)、楔形分光片(6)、聚焦透镜(8)和置于样品台(10)上的待修复的熔石英基片,在所述的楔形分光片(6)的反射光方向是能量计(7),白光光源(11)对所述的样品提供照明,成像系统(9)对所述的样品的表面进行摄像监控,计算机(12)通过信号线与所述的机械快门(3)、能量计(7)、成像系统(9)和样品台(10)相连,所述的聚焦透镜(8)将飞秒激光聚焦到待修复的熔石英基片表面进行修复,采用白光光源(11)照明待修复的熔石英基片,成像系统(9)实时在线监控修复过程,计算机(12)控制所述的机械快门(3)的打开与闭合、实时记录能量计(7)读数、与成像系统(9)连接实时监控修复过程、通过程序控制样品台(10)按设定路径移动。修复过程中,固定飞秒激光的作用位置,并且将待修复的熔石英元件固定在样品台(10)上,通过电脑程序控制样品台(10)按设定的二维路径移动,实现“光栅扫描”移动方式;通过设定“光栅扫描”移动横向距离X、纵向距离Y、纵向间距Δy工艺参数,对不同尺寸的损伤点进行修复:采用频率为1000赫兹,脉宽为38飞秒,焦点处光斑有效面积为905平方微米的飞秒激光;对纵向深度为5~6、7~9、10~12及13~15微米的损伤点,分别采用70、80、90及100微焦耳的飞秒激光进行辐照;③将激光修复后的熔石英元件浸入1%氢氟酸溶液中,在室温下腐蚀30~60分钟;④取出所述的熔石英元件分别用去离子水、碱性清洗剂、去离子水超声清洗各5~10分钟,在洁净室内自然晾干。
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