[发明专利]头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机有效

专利信息
申请号: 201310155904.7 申请日: 2013-04-28
公开(公告)号: CN103245952A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 陆锋;朱灿强;何彩英;王剑;龚旭龙;刘辉;贾佳;何川 申请(专利权)人: 苏州长城开发科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G11B21/02
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 王玉国;陈忠辉
地址: 215021 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,包括机架,机架内设置有多普勒激光发射仪和工控机,机架上的一侧设置有多普勒激光控制器,另一侧设置有硬盘头堆测试主体机构,硬盘头堆测试主体机构由激光传感器测头定位机构、硬盘内读写驱动架夹持机构以及测试集成支撑框架机构组成,激光传感器测头定位机构和硬盘内读写驱动架夹持机构均安装于测试集成支撑框架机构上。本发明实现了硬盘读写驱动器,头堆组件级别微驱驱动强度测试,其测试响应为单个驱动头像纳米级别响应值,且还能实现分头像测试,可辨别单个读写头像动力学特性,在微驱失效返修时,辨别单个失效读写头像,避免了正常头像被误杀,节省物料成本。
搜索关键词: 组件 压电 陶瓷 驱动 位移 测试
【主权项】:
头堆组件压电陶瓷微驱动位移测试机,其特征在于:包括机架,所述机架内设置有多普勒激光发射仪和工控机,所述机架上的一侧设置有多普勒激光控制器,另一侧设置有硬盘头堆测试主体机构,所述硬盘头堆测试主体机构由激光传感器测头定位机构、硬盘内读写驱动架夹持机构以及测试集成支撑框架机构组成,所述激光传感器测头定位机构和硬盘内读写驱动架夹持机构均安装于测试集成支撑框架机构上。
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