[发明专利]原位漫反射红外光谱表征固体表面羟基反应进程的方法无效

专利信息
申请号: 201310158462.1 申请日: 2013-05-02
公开(公告)号: CN103278477A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 庞爱民;李翠华;罗涛;马新刚;池旭辉;刘剑洪;张黔玲 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/49 分类号: G01N21/49
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 王永文;杨宏
地址: 518060 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种原位漫反射红外光谱表征固体表面羟基反应进程的方法,是一种原位、动态表征高分子合成和高分子固体表面-OH含量表征的方法,首先将反应混合物均匀涂覆在洁净金属片上,将该金属片置于漫反射红外光谱仪的恒温水浴/油浴加热台上保持恒温,进行原位红外扫描;然后,根据固化的速度,选择扫描的时间间隔,每次扫描得到的都是金属片同一位置上样品的漫反射红外光谱;监测羟基在3568cm-1处的吸收峰,由内标法根据峰面积或峰强的变化得到固化过程的表观反应固化度和/或由随时间分布的反射红外光谱得到固化过程中羟基的浓度变化。计算聚氨酯中羟基的含量。所述方法简单有效,能够原位准确地监测聚氨酯中羟基含量的变化。
搜索关键词: 原位 漫反射 红外 光谱 表征 固体 表面 羟基 反应 进程 方法
【主权项】:
一种原位漫反射红外光谱表征固体表面羟基反应进程的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将聚氨酯混合物均匀刮涂在洁净金属片上,将该金属片置于漫反射红外光谱仪的恒温加热台上保持恒温状态,进行原位红外扫描;S2、根据固化速度,选择扫描的时间间隔,每次扫描得到的都是金属片同一位置上样品的漫反射红外光谱,得到随时间分布的混合物反射红外光谱;S3、监测羟基在3656‑3534cm‑1处吸收峰面积或3568 cm‑1处峰强,作为计算固化反应过程中羟基含量的依据,计算聚氨酯中羟基的含量。
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