[发明专利]不良位置分析系统及方法有效
| 申请号： | 201310162917.7 | 申请日： | 2013-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN103793544B | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | 郭庆植;朴柱成 | 申请（专利权）人： | 三星电机株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司11283 | 代理人： | 陈潇潇,肖冰滨 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种不良位置分析系统及方法。本发明包括储存设计数据和产品信息的阶段；在每次进行用于制造印刷电路基板的面板的检查工序时、收集从多个检查装置传递的面板基准不良坐标的阶段；以及利用设计数据和坐标变换基准将面板基准不良坐标变换为各对象不良坐标的阶段。 | ||
| 搜索关键词： | 不良 位置 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种不良位置分析系统，其中，该不良位置分析系统包括：对包括设计数据和产品信息在内的与不良位置分析系统相关联的信息进行储存的数据库；收集面板基准不良坐标的数据收集部；以及利用所述设计数据和坐标变换基准将从所述数据收集部收集的所述面板基准不良坐标变换为各对象不良坐标并储存在所述数据库中的坐标变换部，所述对象包括所述印刷电路基板的块和包括多个所述块的片，其中，所述面板基准不良坐标包括识别号码，所述坐标变换部基于所述产品信息掌握与所述面板基准不良坐标的识别号码相匹配的型号信息、提取所掌握的型号信息的设计数据、利用所提取的设计数据和所述面板基准不良坐标以及所述坐标变换基准将所述面板基准不良坐标变换为各对象不良坐标。
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