[发明专利]基于自动对准和覆盖的匀场图校准方法的自动定位在审

专利信息
申请号: 201310163427.9 申请日: 2013-05-07
公开(公告)号: CN103424724A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: D.保罗;B.施米特 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明是基于自动对准和覆盖的匀场图校准方法的自动定位。涉及一种用于使磁共振断层造影设备(101)的磁场(B0;B1)均匀的装置和方法,其特征在于,自动化地(119)与检查对象(105)的待由磁共振断层造影设备(101)检查的区域(FL)匹配地确定检查对象特定的视野区域(FOV2;FOV3),并且在MRT成像之前进行磁场(B0和/或B1)的调准测量,以此为基础确定仅仅视野区域(FOV2;FOV3)的场图,以视野区域(FOV2;FOV3)的场图为基础对磁场(B0;B1)进行匀场化。
搜索关键词: 基于 自动 对准 覆盖 匀场图 校准 方法 定位
【主权项】:
1.一种用于使磁共振断层造影设备(101)中的磁场(B0;B1)匀场化的方法,其特征在于,-确定待由磁共振设备检查的检查对象的视野区域,-将待检查的检查对象的视野区域自动地与待检查的检查对象的区域匹配,-执行磁场的调准测量,-基于调准测量,使用包括待检查的检查对象的区域和局部线圈的位置的自动对准信息和自动覆盖信息,确定待检查的检查对象的视野区域的匀场图,-其中磁共振设备配置为使用待检查的检查对象的区域和局部线圈的位置确定视野区域的位置或/和尺寸,-并且基于待检查的检查对象的视野区域的匀场图,对用于待检查的检查对象的视野区域的磁场进行匀场,和-通过磁共振设备,使用匀场的磁场,记录待检查的检查对象的图像。
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