[发明专利]虚拟故障地址产生系统、冗余分析仿真系统及其方法在审
| 申请号： | 201310164040.5 | 申请日： | 2013-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN103425814A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 吴伦娜;白弼岿;尹德鸠 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 鲁恭诚;刘灿强 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种虚拟故障地址产生系统、冗余分析仿真系统及其方法。并提供一种故障分布产生系统。所述故障分布产生系统包括：故障地址映射模块，接收将包括在半导体装置中的故障表示为具有多个不同故障等级的多个像素的故障比特映射以及包括在半导体装置中的故障的故障地址，并将故障地址映射到故障比特映射的每个像素；故障模式分析模块，从故障地址映射模块接收关于故障地址被映射到的每个像素的信息，分析接收到的信息，并将包括在每个像素中的故障分类为预定故障模式；故障分布估计模块，基于故障模式分析模块的分类的结果估计根据故障等级的故障模式的发生概率分布。 | ||
| 搜索关键词： | 虚拟 故障 地址 产生 系统 冗余 分析 仿真 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种故障分布产生系统，包括：故障地址映射模块，接收将包括在半导体装置中的故障表示为具有多个故障等级的多个像素的故障比特映射以及包括在半导体装置中的故障的故障地址，并将故障地址映射到故障比特映射的每个像素；故障模式分析模块，从故障地址映射模块接收关于故障地址被映射到的每个像素的信息，分析接收到的信息，并将包括在每个像素中的故障分类为预定故障模式；故障分布估计模块，基于故障模式分析模块的分类的结果估计根据故障等级的故障模式的发生概率分布。
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