[发明专利]基于飞行时间法的快中子成像方法及系统无效

专利信息
申请号: 201310166449.0 申请日: 2013-05-08
公开(公告)号: CN103245680A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 鲍杰;张艳萍;张奇玮;唐洪庆;周祖英;侯龙;阮锡超;聂阳波;刘世龙;王朝晖 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01N23/05 分类号: G01N23/05
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及快中子成像技术,具体涉及一种基于飞行时间法的快中子成像方法及系统。该方法采用多块闪烁体单元组成闪烁体阵列,使闪烁体阵列与位置灵敏探测器进行耦合,将耦合后的整个探测器阵列设置在距离中子源较远位置,将样品设置在距离中子源较近位置,利用中子飞行时间方法进行测量,再利用符合方法剔除干扰因素得到每个闪烁体单元探测器上的有效计数,将各闪烁体单元探测器上的有效计数按阵列排列后得到是只有源中子起作用的二维图像。本发明采用探测器阵列的设计方式,提高了探测效率;飞行时间法测量方式可以有效地去除样品散射中子、环境漫散射本底和γ本底,提高了信噪比。
搜索关键词: 基于 飞行 时间 快中子 成像 方法 系统
【主权项】:
一种基于飞行时间法的快中子成像技术,其特征在于:采用多块闪烁体单元组成闪烁体阵列,使闪烁体阵列与位置灵敏光电倍增管进行耦合,将耦合后的整个探测器设置在距离中子源较远位置,将样品设置在距离中子源较近位置,利用中子飞行时间方法进行测量,得到每个闪烁体单元探测器的飞行时间谱,对每个像元的能谱作卡阈处理,通过选取时间窗剔除干扰因素得到每个闪烁体单元探测器上的有效计数,将各闪烁体单元探测器上的有效计数按阵列排列后得到只是源中子起作用的二维图像。
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