[发明专利]射频识别标签数目的获取方法及系统有效

专利信息
申请号: 201310167136.7 申请日: 2013-05-08
公开(公告)号: CN103279724A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 蒋文超;朱燕民 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种射频识别标签数目的获取方法及系统,本发明利用RFID标签回复中首个非空时隙的位置即首个非空时隙前的空白时隙个数来估算RFID标签总数,只需读取每一轮的帧中的前几位比特即一帧中的前几个时隙,避免每次读取整个帧长度的比特数即一帧中的所有时隙。本发明纠正之前研究中对于时隙独立性的错误假设,能够更准确地得到首个非空时隙前的空白时隙个数与RFID标签总数的关系,因此能够更快更准确地估算射频识别标签数目。
搜索关键词: 射频 识别 标签 目的 获取 方法 系统
【主权项】:
一种射频识别标签数目的获取方法,其特征在于,包括:建立射频识别标签回复中首个非空时隙前的空白时隙个数与射频识别标签数目的概率关系;根据给定的精度要求,获取阅读器与所有射频识别标签需要执行EPC C1G2协议的轮数;阅读器与所有射频识别标签执行所述轮数的EPC C1G2协议,并记录每一轮的射频识别标签回复中首个非空时隙前的空白时隙个数;根据所有轮的射频识别标签回复中首个非空时隙前的空白时隙个数获取所有轮的首个非空时隙前的平均空白时隙个数;根据所述射频识别标签回复中首个非空时隙前的空白时隙个数与射频识别标签数目的概率关系及所述平均空白时隙个数获取射频识别标签数目。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310167136.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top