[发明专利]一种结构位移逆向摄像测量方法有效

专利信息
申请号: 201310170413.X 申请日: 2013-05-08
公开(公告)号: CN103234462A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 周华飞;秦良忠;谢子令 申请(专利权)人: 温州大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京中北知识产权代理有限公司 11253 代理人: 程春生
地址: 325000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种结构位移逆向摄像测量方法,包括以下步骤:(1)将数字摄像机架设在待测结构的测点上,在地面上选取基准点安装标志物;(2)通过运动的数字摄像机监测不动的标志物;(3)确定标志物相对于待测点的位移;(4)将标志物相对于待测点的位移换算成待测点相对于固定标志物的位移,即待测点位移;(5)确定位移的主方向和次方向;(6)设计自适应滤波器;(7)将主方向实测位移经自适应滤波器处理后的结果作为测点的真实位移。本发明将数字摄像机与标志物的位置互换,从而实现无人值守的长期连续监测;同时本发明把自适应滤波运用到实测位移的精度提高上,减小因数字摄像机运动等因素引起的测量误差,使得测量结果更加精确。
搜索关键词: 一种 结构 位移 逆向 摄像 测量方法
【主权项】:
一种结构位移逆向摄像测量方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)将数字摄像机架设在待测结构的测点上,在地面上选取固定不动的基准点安装标志物;(2)数字摄像机随着待测点的位移而运动,通过运动的数字摄像机监测不动的标志物;(3)计算所摄图像中标志物中心的像素平面坐标,根据标定系统归化出标志物的真实坐标,确定标志物相对于待测点的位移;(4)利用镜像法,将标志物相对于待测点的位移换算成待测点相对于固定标志物的位移,即待测点位移;(5)根据结构的变形特点,确定位移的主方向和次方向;(6)以次方向的实测位移为参考信号,以主方向的实测位移为基本信号,设计自适应滤波器;(7)将主方向实测位移经自适应滤波器处理后的结果作为测点的真实位移。
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