[发明专利]航天器器件位移损伤失效率测算方法有效
申请号: | 201310172922.6 | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN104143037B | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 王群勇 | 申请(专利权)人: | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人: | 韩国胜 |
地址: | 100089 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及宇宙飞行技术领域,公开了一种航天器器件位移损伤失效率测算方法,其包括步骤分别检测各器件样品失效时累积的等效10MeV质子注量,并输入尺度因子计算模块进行计算得到对数正态分布尺度因子数值;将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算得到对数正态分布形状因子数值;最后,将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和航天器器件累积的等效10MeV质子注量的预测值输入位移损伤失效率计算模块进行计算,得到位移损伤失效率;依此判断航天器内器件在任务周期内因位移损伤而发生故障的失效率,有助于航天器器件的可靠性分析和优化设计。 | ||
搜索关键词: | 航天器 器件 位移 损伤 失效 测算 方法 | ||
【主权项】:
一种航天器器件位移损伤失效率测算方法,其特征在于,所述测算方法包括以下步骤:S1、准备多份待检测的器件样品,并分别检测各器件样品失效时累积的等效10MeV质子注量;S2、将各器件样品的等效10MeV质子注量输入尺度因子计算模块进行计算,并得到对数正态分布尺度因子数值;S3、将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算,并得到对数正态分布形状因子数值;S4、将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和航天器器件失效时累积的等效10MeV质子注量的预测值输入位移损伤失效率计算模块进行计算,以得到位移损伤失效率;所述尺度因子计算模块内设置有基于以下数学公式建立的数学计算模型:μ=ln(RFAIL-DD)‾=1nΣi=1nln((RFAIL-DD-i))]]>其中:μ为对数正态分布尺度因子;n为器件样品数量;RFAIL‑DD‑i为第i个器件样品的等效10MeV质子注量,单位:n/cm2。
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