[发明专利]红外焦平面阵列探测器单元、红外成像系统及校正方法有效
| 申请号： | 201310179002.7 | 申请日： | 2013-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN103308184A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 刘海涛;姜利军;刘翔;尹茂林;马志刚 | 申请（专利权）人： | 浙江大立科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/22 | 分类号： | G01J5/22;G01J5/06 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 孙佳胤 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种含非均匀性校正功能的红外焦平面阵列探测器单元、红外成像系统及其非均匀性校正方法。所述红外焦平面阵列探测器单元包括由相同的热敏电阻材料制成的像元和盲元，所述像元对入射红外辐射响应，而所述盲元对入射红外辐射无响应，所述像元与所述盲元串联，并且与一积分放大器的反相输入端电学连接，在所述盲元与像元电学连接的相对另一端电学连接一补偿盲元；所述补偿盲元与所述盲元一样对入射红外辐射无响应；所述补偿盲元用于补偿所述盲元，并间接地使相对应的像元的非均匀性得到补偿校正。本发明可以有效补偿像元的电阻值的非均匀性，提高焦平面阵列的有效输出动态范围和降低噪声等效温差。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 平面 阵列 探测器 单元 成像 系统 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种含非均匀性校正功能的红外焦平面阵列探测器单元，所述红外焦平面阵列探测器单元包括由相同的热敏电阻材料制成的像元和盲元，所述像元对入射红外辐射响应，而所述盲元对入射红外辐射无响应，所述像元与所述盲元串联，并且与一积分放大器的反相输入端电学连接，其特征在于，在所述盲元与像元电学连接的相对另一端电学连接一补偿盲元，并且与所述盲元一样对入射红外辐射无响应；所述补偿盲元用于补偿所述盲元，使相对应的探测器单元的非均匀性得到补偿校正。
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