[发明专利]一种红外辐射面均匀性测量装置及方法

摘要

本发明提出了一种红外辐射面均匀性测量装置，包括：高分辨率小光点采样和成像光学系统、红外探测器、前置放大器、带通滤波器、主放大器及A/D转换电路、二维精密电控位移系统及其驱动电路、主控计算机及主接口电路；所述高分辨率小光点采样和成像光学系统将红外辐射面采样点聚焦于红外探测器上；所述主控计算机通过主接口电路将驱动指令传给二维精密电控位移系统；所述红外探测器将测量的红外辐射信号转换为电信号，经过前置放大器、主放大器及A/D转换电路后，送入主控计算机完成数据处理。本发明的红外辐射面均匀性测量装置结构简单，成本低；测试效率高，速度快；测点数量多，测量精度高；溯源容易。

主权项

一种红外辐射面均匀性测量装置，其特征在于，包括：高分辨率小光点采样和成像光学系统、红外探测器、前置放大器、带通滤波器、主放大器及A/D转换电路、二维精密电控位移系统及其驱动电路、主控计算机及主接口电路；所述高分辨率小光点采样和成像光学系统将红外辐射面采样点聚焦于红外探测器上，实现对被测红外辐射面的自动定位及小光点采样；所述主控计算机通过主接口电路将驱动指令传给二维精密电控位移系统，按照预先设定的扫描方式，通过控制高分辨率小光点采样和成像光学系统及红外探测器，实现对红外辐射面多个被测点的扫描测量；所述红外探测器将测量的红外辐射信号转换为电信号，经过前置放大器、主放大器及A/D转换电路后，送入主控计算机完成数据处理。