[发明专利]薄膜光电导探测器及其制备方法与应用有效

专利信息
申请号: 201310183177.5 申请日: 2013-05-17
公开(公告)号: CN103311439A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 靳志文;王吉政;张志国 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: H01L51/46 分类号: H01L51/46;H01L51/48
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种薄膜光电导探测器及其制备方法与应用。该薄膜光电导探测器,由下至上依次包括基底、载流子传输层、电极层和吸光层;电极层由位于同一层的正极层和负极层组成。该探测器结合了无机材料的高迁移率与有机材料的高吸光,当光照射到光电器件的有机层上时,最上层的有机材料吸光产生载流子,由于有机层与无机层间的能级差与载流子的浓度差,光生载流子进入无机材料层,并很快的被电极收集从而有很大的G和R值。同时,因为无机材料高的迁移率,使的器件的光电流响应时间和衰减时间也大大减小,从而提高了薄膜光导器件的灵敏度,具有重要的应用价值。
搜索关键词: 薄膜 电导 探测器 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
一种薄膜光电导探测器,由下至上依次包括基底、载流子传输层、电极层和吸光层;所述电极层由位于同一层的正极层和负极层组成,所述正极层与负极层的水平间距为10‑1000μm。
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