[发明专利]光信号质量监控电路以及光信号质量监控方法有效
申请号: | 201310193876.8 | 申请日: | 2005-06-03 |
公开(公告)号: | CN103312410A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 社家一平;高良秀彦;谷口笃 | 申请(专利权)人: | 日本电信电话株式会社 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04L1/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴秋明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开一种光信号质量监控电路以及光信号质量监控方法,其能够在信号比特率变化的情况下,测定正确的光信号质量参数。在对从光信号转换来的电信号以任意重复的频率f1进行采样并通过模拟/数字转换而转换为数字的采样数据后,在将信号处理功能程序化的集成电路中,在通过电信号处理而对光信号的光信号质量参数进行评价的光信号质量监控电路中,在光信号的信号比特率被变更时,对通知光信号的比特率变更这一情况的控制信号进行接收,或者对光信号比特率的转换这一情况进行检测,从而对与被变更后的光信号的信号比特率相对应的光信号的光信号质量参数进行校正。 | ||
搜索关键词: | 信号 质量 监控 电路 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种光信号质量监控电路,其特征在于,具备:光电转换模块,其将所输入的光信号转换为电信号;采样模块,其将所述电信号以任意的重复频率f1进行采样,并且通过模拟/数字转换而转换为数字的采样数据;以及信号处理模块,其利用所述采样数据,根据所述光信号的信号比特率的变化,对所述光信号的光信号质量参数进行校正,并评价,所述信号处理模块(412、512)包括:第1阈值处理模块(438、538、641),其将所述采样数据的信号振幅与预先设定的第1阈值进行比较,而分类为二进制信号的标记部分和空白部分这2种分布;加法处理模块(438、538、652,656),其对所述2种分布的每一种,计算所述采样数据的信号振幅值之和;平均值计算处理模块(438、538、692),其对所述2种分布的每一种,根据所计算的所述采样数据的信号振幅值之和,而求取平均值;第2阈值处理模块(440、540、646、647),其将针对所述2种分布的每一种所求取的所述平均值分别设为第2阈值和第3阈值,在所述采样数据的信号振幅比所述第2阈值大的情况下,分类为第2标记部分分布,所述第2标记部分分布由信号振幅比所述第2阈值大的分布以及关于所述第2阈值线对称的分布构成,在所述采样数据的信号振幅比所述第3阈值小的情况下,分类为第2空白部分分布,所述第2空白部分分布由信号振幅比所述第3阈值小的分布以及关于所述第3阈值线对称的分布构成;第2加法处理模块(440、540、682、686),其对所述第2标记部分和所述第2空白部分这2种分布的每一种,计算所述采样数据的信号振幅的平方值之和;Q值计算处理模块(440、540、664),其对所述第2标记部分和第2空白部分这2种分布的每一种,利用所述信号振幅值之和以及所述信号振 幅的平方值之和,而求取标准偏差,并且利用有关所述标记部分和所述空白部分的各自的所述平均值,以及有关所述第2标记部分和所述第2空白部分的各自的所述标准偏差,而计算Q值;平均化处理模块(422、522、670),其根据所述光信号的信号比特率对所述Q值进行校正后,对被校正后的所述Q值多次进行测定,并进行平均化;Q值存储模块(426、526、604),其对被校正且被平均化后的Q值进行存储;以及警报传送模块(610),其在所述被校正且被平均化后的Q值低于预先存储的参考Q值的情况下,传送警报。
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