[发明专利]一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片有效
| 申请号： | 201310194015.1 | 申请日： | 2013-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN103308585A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 陈朝贵;张晓伟;曹煊;张述伟;马然;刘乃友;罗非;张颖颖;褚东志;刘东彦;张颖;石小梅;范萍萍;吕靖;高杨;张婷;曹璐;王昭玉;王洪亮;张国华;任国兴;程岩;王茜;侯广利;刘岩 | 申请（专利权）人： | 山东省科学院海洋仪器仪表研究所 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人： | 王晓晓 |
| 地址： | 266001 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，本发明所述芯片将芯片上参比电极同电化学反应池隔离开来，中间通过金属或非金属条带相连。金属或非金属条带同芯片结构的微纳缝隙进行离子交换以及金属或非金属条带的电位传导的共同作用，维持参比电极的正常工作。利用本发明的技术方案，可以解决常规电化学芯片参比电极测试时直接同待测溶液接触，从而造成电化学检测体系部分受限且参比电极的稳定性较差等问题，本发明所述芯片可以提高芯片上参比电极体系的稳定性，延长了其寿命，使得电化学检测芯片能够适应较长时间的使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 抛弃 参比电极 结构 电化学 检测 芯片 | ||
【主权项】：
一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：所述芯片上设有相互独立的电化学反应池和参比电极区域，两者之间通过金属或非金属条带连通，所述金属或非金属条带上设有微纳孔隙，所述电化学反应池内有辅助电极和工作电极，所述参比电极区域内有参比电极。
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