[发明专利]连续校正磁共振测量序列的相位误差的方法和磁共振设备

摘要

不同的实施方式涉及一种在其中使用多个顺序入射的多维位置选择高频激励脉冲（1）的磁共振测量序列（5）的情况下连续校正相位误差的方法和一种磁共振设备。该方法包括采集校准拍摄序列（2）中的多个校准梯度回波和从多个校准梯度回波中计算对于相位特性曲线的校正值和对于相位差的校正值。该方法还包括入射另外的高频激励脉冲（1），其中所述入射考虑了校正值。

主权项

一种用于在其中使用多个顺序入射的多维位置选择高频（HF）激励脉冲（1）的磁共振（MR）测量序列（5）的情况下连续校正相位误差的方法，该方法包括：‑入射多维位置选择HF激励脉冲（1）以利用特定的激励参数激励横向磁化，‑采集所激励的横向磁化的多个校准梯度回波（21），‑从多个校准梯度回波（21）中计算对于HF激励脉冲（1）的相位特性曲线（100）的校正值（110）和对于HF激励脉冲（1）的相位差（101）的校正值（111），‑利用成像拍摄序列（3）检测MR数据，其中所述拍摄序列（3）涉及具有特定的激励参数的横向磁化，‑入射另外的多维位置选择HF激励脉冲（1）以利用另外的特定激励参数激励另外的横向磁化，其中，所述另外的HF激励脉冲（1）的入射考虑了对于相位特性曲线（100）所计算的校正值（110）和对于相位差（101）所计算的校正值（111）。