[发明专利]一种三相交流电错、断相检测电路及其检测方法

摘要

本发明公开了一种三相交流电错、断相检测电路及其检测方法，将需要检测的三相交流电接入所述检测电路的三个接口R、S、T，经过检测光耦前级电路使三相交流电连接电路形成三角形接法，经过光耦的隔离，将高压信号转换为低压3.3V高低电平信号输入CPU。使用本发明在三相交流电接线相序发生错误的情况下，可在上电时及时检测出来并采取安全保护措施，从而避免危险、降低损失。同时本发明相对于其他现有的检测方法，节约了元器件材料，降低了成本。

主权项

一种三相交流电错、断相检测电路，其特征在于，由三路单相检测电路按三角形接法连接形成整体检测电路，每一路单相检测电路具有相同的电器件连接结构，包括光耦导通回路、光耦合器、光耦后级电路；第一路光耦导通回路的输入端和第三路光耦导通回路的输出端相连接，第一路光耦导通回路的输出端和第二路光耦导通回路的输入端相连接，第二路光耦导通回路的输出端和第三光耦导通回路的输入端相连接，三路支路的光耦后级电路分别通过各自的上拉电阻按星形接法连接，其中：光耦导通回路包括二极管、第一电阻、第二电阻、第一电容；光耦导通回路的输入端和二极管的正极相连接，二极管的负极和第一电阻的一端相连接，第一电阻的另一端分别和第二电阻的一端、第一电容的一端相连接，第二电阻的另一端和光耦合器中的二极管阳极相连接，光耦合器中的二极管阴极和第一电容的另一端相连接；光耦后级电路包括第二电容、上拉电阻、第三电阻；光耦合器的输出端分别和第二电容的一端、第三电阻的一端、上拉电阻的一端相连接，光耦合器的接地端和第二电容的另一端相连并接地，上拉电阻的另一端接电源，第三电阻的另一端接CPU。