[发明专利]HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备和测试方法在审
| 申请号： | 201310199846.8 | 申请日： | 2013-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN104181401A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 郭群超;柳琴;庞红杰;张愿成;张军 | 申请（专利权）人： | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/00 | 分类号： | G01R29/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高效异质结HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备和测试方法，测试设备包括导线、探针、样品台、暗盒、静电计、光源和屏蔽罩。测试方法是在样品表面先蒸发两条共面型铝电极，两条电极之间的材料即为被测样品，将样品放入密封的样品台上，连接一个可编程的静电计和光源，通过测试得到的电流来计算出薄膜的电导率。本发明提供的测试设备和测试方法简单并且成本低，能准确的反应出材料的光电性能。 | ||
| 搜索关键词： | hit 专属 单层 膜光暗 电导 性能 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备，其特征在于包括：样品台，含有两个压片探针，并且整个样品台内置在一个暗盒里，完全密封：光源，设置在样品台的正上方；可编程的静电计，设置在一个小屏蔽罩内，并用屏蔽信号线和两个压片探针连接并接地；大屏蔽罩，将上述样品台、光源和可编程的静电计屏蔽在内，并且接地。
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