[发明专利]一种摆片下垂量精密测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种摆片下垂量精密测量装置及方法。本发明主要包括微型步进电机、恒测力钮、表头、基座、摆片、目镜、支柱、控制系统、底座、千分尺、套筒、激光发射器，装置主体设有基体，底座，千分尺，摆片放在基体的环形槽中，基体的下部与千分尺相连，千分尺与微型步进电机相连，微型步进电机的另一端与控制系统相连，底座与基体通过螺母相连，以支撑基体，装置的右侧设有激光发射器，激光发射器通过千分尺来调节位置，千分尺发在套筒中，套筒通过螺母与基座相连，装置左侧设有目镜，目镜与支柱相连。本发明使用一种较为简单的测量装置，操作方便，可以提高测量的精度，适用于任何材料摆片下垂量的测量，适用范围广。

主权项

一种摆片下垂量精密测量装置，包括微型步进电机、联轴器、第一恒测力钮、第一千分尺、刻度盘、表头、摆片、基体、支架、激光发射器、圆筒、第二千分尺、第二恒测力钮、底座、控制系统、支柱、目镜、通孔、U型臂和套筒；其特征在于：所述的基体包括通孔、U型臂和套筒， U型臂的一端与套筒连接，另一端开有两级阶梯通孔连接，上半部分通孔的直径大于下半部分通孔的直径；套筒与通孔的轴线方向都为竖直方向；所述的底座上设有微型步进电机；微型步进电机通过控制系统控制；微型步进电机的输出轴通过联轴器与第一千分尺的第一恒测力钮连接，第一千分尺通过螺钉固定在基体的套筒中，基的U型臂通过螺钉固定连接在支架上，支架垂直固定在底座的上底面，摆片放在基体通孔中，基体的左侧设有目镜，目镜固定在支柱上，使目镜能够观察到摆片下端，基体的右侧设置有激光发射器，激光发射器设置在第二千分尺的表头上，通过第二千分尺调节位置，第二千分尺通过螺钉固定在圆筒中，圆筒通过圆筒臂固定在支架上。