[发明专利]测量太赫兹时域光谱系统光斑位置和大小的测量仪及方法有效

专利信息
申请号: 201310203044.X 申请日: 2013-05-28
公开(公告)号: CN103256893A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 赵昆;董晨;宝日玛 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 赵燕力
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明为一种测量太赫兹时域光谱系统光斑位置和大小的测量仪及方法,测量仪包括有平移台和夹持台,夹持台上夹持有一矩形测量板;测量板的测量平面与太赫兹时域光谱系统的光束呈垂直方向设置;测量板由至少两片不同大小的矩形测量片固定叠加构成;各测量片的中心对正、相对侧边平行设置。该测量仪利用太赫兹时域光谱系统本身可以测量电磁波相位、振幅的特点进行测量;测量仪放在太赫兹时域光谱系统的载物台上,对光斑位置和大小进行测量,获得的数据与光阑法测量的结果吻合;该测量仪可不需要任何辅助电源和电路,能够对太赫兹时域光谱系统光斑位置和大小进行检测;该测量仪结构简单、灵敏度和测量精度高、价格低廉,测量方法简单实用。
搜索关键词: 测量 赫兹 时域 光谱 系统 光斑 位置 大小 测量仪 方法
【主权项】:
一种测量太赫兹时域光谱系统光斑位置和大小的测量仪,其特征在于:所述测量仪包括有平移台和连接在平移台上的夹持台,所述夹持台上夹持有一矩形测量板;所述测量板的测量平面与太赫兹时域光谱系统的光束呈垂直方向设置;所述测量板由至少两片不同大小的矩形测量片固定叠加构成;所述各测量片的中心对正、相对侧边平行设置。
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