[发明专利]X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法及系统

摘要

本发明中公开了一种X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法及系统。所述X光探测器包括沿X向排列的多个探测器模块，每个探测器模块由沿Z向排列的偶数个的探测器子模块组成，每个探测器子模块由沿X向排列的多个探测器元件构成，使得每个探测器模块分别由以二维方式设置的多个探测器元件构成；其中，方法包括：对X光探测器的探测器模块在Z向的不同位置进行CT成像，得到每个探测器模块两头的探测器子模块的图像数据曲线，根据两条曲线之间的交点得到该探测器模块的中心位置，根据每个探测器模块各自的中心位置确定各探测器模块的对齐情况。本发明中的技术方案能够实现对X光探测器的探测器模块对齐情况的检测。

主权项

一种X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法，所述X光探测器包括沿第一方向平行排列的至少两个探测器模块，每个探测器模块由沿第二方向平行排列的2N个的探测器子模块组成，每个探测器子模块由沿第一方向平行排列的至少两个探测器元件构成，使得每个探测器模块分别由以二维方式设置的多个探测器元件构成，其中，N为大于或等于1的整数；该方法包括：使X光探测器的探测器子模块的排列方向与Z向一致，确定准直器的约束孔隙沿Z向移动的起始点、结束点和移动步长；将所述起始点作为所述约束孔隙的第一个移动位置，按照所述移动步长沿Z向依次移动准直器的约束孔隙，直到所述约束孔隙到达作为最后一个移动位置的结束点，并对应所述约束孔隙的每个移动位置，进行CT扫描，并通过至少一次采样得到每个移动位置下各探测器模块两端的探测器子模块的至少一组扫描数据；对每个探测器模块两端的探测器子模块中的每个探测器子模块，根据每个移动位置下所述探测器子模块的扫描数据计算得到每个移动位置下针对该探测器子模块的一个控制数据；对每个探测器模块，在由移动位置值和控制数据值构成的直角坐标系中，根据每个移动位置下针对该探测器模块两端的探测器子模块的控制数据，绘制出两条控制曲线，根据所述两条控制曲线的交点，得到所述探测器模块的Z中心位置；和根据各探测器模块的Z中心位置确定该探测器的探测器模块对齐情况。