[发明专利]超高分辨率星载SAR成像处理方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310207049.X 申请日: 2013-05-29
公开(公告)号: CN103323828A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 罗运华;赵秉吉;韩晓磊;王宇 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G01S13/90
代理公司: 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人: 张振伟;王黎延
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种超高分辨率星载SAR成像处理方法,建立星载SAR回波信号的二维频谱模型,通过将所述二维频谱模型与其对应的参考函数相乘,消除所述二维频谱模型中的在参考斜距处的距离徙动相位项和高阶耦合相位项,对消除处理后的信号作距离向逆傅立叶变换,通过插值方式校正所述二维频谱模型中的残留距离徙动量,再通过距离分块补偿方式补偿所述二维频谱模型中的剩余高阶耦合相位项,最后通过方位压缩方式消除所述二维频谱模型的方位调制相位项,得到聚焦后的星载SAR图像。同时,本发明还公开了一种星载SAR成像处理装置。利用本发明的技术方案,可得到高质量的超高分辨率星载SAR图像,并具有良好的定位能力,满足了高分辨下的应用需求。
搜索关键词: 超高 分辨率 sar 成像 处理 方法 装置
【主权项】:
一种超高分辨率星载合成孔径雷达SAR成像处理方法,其特征在于,所述方法包括:建立星载SAR回波信号的二维频谱模型;通过所述二维频谱模型与其对应的参考函数相乘消除所述二维频谱模型的在参考斜距处的距离徙动相位项及高阶耦合相位项,再对经消除处理后的信号作距离向逆傅立叶变换,并通过插值方式校正所述二维频谱模型中的残留距离徙动量,再通过距离分块补偿方式补偿所述二维频谱模型中的剩余高阶耦合相位项,通过方位压缩方式消除所述二维频谱模型的方位调制相位项;根据消除方位调制相位项后的所述二维频谱模型得到聚焦后的SAR图像。
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