[发明专利]基于透镜的材料微波低频段传输特性测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201310214135.3 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN104215647B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 邓峰;吴晓光;奚秀娟;王冬冬;张崎;侯冬云 申请(专利权)人: 中国舰船研究设计中心
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 胡建平
地址: 441623 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于透镜的材料微波低频段传输特性测试系统,包括发射天线和微波接收探头、介质凸透镜、介质凹透镜、待测材料支架和吸波墙;发射天线、介质凸透镜、介质凹透镜、待测材料支架、微波接收探头中心、吸波墙依次位于一条直线上;所述发射天线相位中心与介质凸透镜距离大于凸透镜焦距。本发明只需使用较小尺寸的待测材料样片,并且通过介质凸透镜、介质凹透镜将低频段微波大尺寸天线辐射的大范围球面波聚焦为小范围平面波,并利用上述小范围平面波对材料微波低频段的传输特性进行测试,极大减小了待测材料边缘散射对测试结果的干扰,测试结果准确性高,成本低。
搜索关键词: 基于 透镜 材料 微波 频段 传输 特性 测试 系统 方法
【主权项】:
一种基于透镜的材料微波低频段传输特性测试系统,包括发射天线和微波接收探头,其特征在于,还包括介质凸透镜、介质凹透镜、待测材料支架和吸波墙;发射天线、介质凸透镜、介质凹透镜、待测材料支架、微波接收探头中心、吸波墙依次位于一条直线上;所述发射天线相位中心与介质凸透镜距离大于凸透镜焦距;所述微波低频段指300MHz至3GHz频段。
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