[发明专利]微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法有效

专利信息
申请号: 201310214174.3 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN103323677A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 肖芬;余明;阙永祥;江智渊;陈先言;刘星 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R31/00;G01R33/12
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法,涉及一种材料电磁参数的检测。提供无损伤、精确、操作方便的一种微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法。所述微波材料电磁参数的凹形腔检测装置设有微波矢量网络分析仪、微波凹形腔传感器、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。
搜索关键词: 微波 材料 电磁 参数 凹形 检测 装置 及其 自动检测 方法
【主权项】:
微波材料电磁参数的凹形腔检测装置,其特征在于设有微波矢量网络分析仪、微波凹形腔传感器、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机;所述输入同轴电缆的输入端接微波矢量网络分析仪的微波信号输出端口,输入同轴电缆的输出端接微波凹形腔传感器的SMA输入端;输出同轴电缆的输入端接微波凹形腔传感器的SMA输出端,输出同轴电缆的输出端接微波矢量网络分析仪微波测试信号输入端口;GPIB数据采集卡输入端接微波矢量网络分析仪的数据输出端,GPIB数据采集卡输出端接计算机。
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