[发明专利]母排联接式高性能IGBT模块及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201310217477.0 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN104218031B 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 颜家圣;陈崇林;邢雁;孙亚男;王维 申请(专利权)人: 湖北台基半导体股份有限公司
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L23/48;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 襄阳嘉琛知识产权事务所42217 代理人: 严崇姚
地址: 441021 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明的名称为母排联接式高性能IGBT模块及其制作方法。属于功率半导体器件和电力电子技术领域。它主要是解决现有铝丝键合存在芯片和联接线间的接触面积小、IGBT器件的浪涌电流能力和过载能力不够高、器件工作可靠性不够高的问题。它的主要特征是包括外壳、底板、电极和封装在外壳内的半导体芯片、DBC、电极、母排、钼片、焊料等。所述的芯片、DBC、电极相互间是通过母排联接的。母排联接方法是将各部件依次组装在专用的制具中,并紧固,在真空炉中焊接而成。本发明能显著提高IGBT器件的频率特性,改善器件的开关性能,对高频、大功率、高可靠性半导体器件非常适用。相比传统技术,可节省投资,缩短生产加工周期。
搜索关键词: 联接 性能 igbt 模块 及其 制作方法
【主权项】:
一种母排联接式高性能IGBT模块,包括外壳(13)、底板(6)、DBC板(5)、电极(1)、半导体芯片(4)、栅极引线(7),电极(1)固定在DBC板(5)上,DBC板(5)固定在底板(6),半导体芯片焊接在DBC板(5)上,其特征在于:所述的半导体芯片(4)、DBC板(5)、电极(1)相互间是通过母排(2)联接的;所述的半导体芯片(4)与母排(2)之间还焊接有钼片(3);所述的钼片(3)与半导体芯片(4)之间是通过焊料(11)经真空烧结或回流焊接连接的;DBC板(5)与半导体芯片和底板(6)之间是通过焊料(11)经真空烧结或回流焊接连接的;真空烧结:在焊接过程第一阶段,升温至焊接温度的过程中需反复抽真空和充氮气,当温度接近所规定的温度时,充入氢气或甲酸气至与外界压力持平;在焊接过程第二阶段,在220~350°C范围内保持不少于5分钟的恒温,之后进行焊接,焊毕后抽真空;在焊接过程第三阶段,抽真空后以不高于每分钟15°C降温至室温,降温过程中充入氮气,各阶段真空低于2×10‑3Pa;回流焊接:将隧道炉履带的运转速度设定为每秒0.004米,控制隧道炉焊接段温度在220~350°C范围内,在焊接全程中需通氢气保护,进行回流焊接。
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