[发明专利]激光工艺对准测量方法有效
| 申请号： | 201310220534.0 | 申请日： | 2013-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN103481662B | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | T·马蒂拉 | 申请（专利权）人： | 泰克诺玛公司 |
| 主分类号： | B41F33/00 | 分类号： | B41F33/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人： | 杨晓光,于静 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种可应用于包括激光工艺阶段的卷到卷制造工艺的激光工艺对准测量方法，其中在至少一个激光工艺阶段之前，使用印刷墨水在卷筒纸（2）的基底或载体材料上形成标记、图案或表面（4，9），在该基底或载体材料上例如通过移除或改变印刷墨水，使用的激光光束可以形成标记（7，10），由此在激光工艺阶段，在使用印刷墨水印刷的所述标记上使用激光光束绘制另一标记，且光学地读取使用印刷墨水印刷的标记（4，9）和使用激光绘制的标记（7，10）的位置以测量印刷墨水阶段和激光工艺阶段的对准。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 工艺 对准 测量方法 | ||
【主权项】：
一种激光工艺对准测量方法，可应用于包括激光工艺阶段的卷到卷制造工艺，该方法特征在于：在至少一个激光工艺阶段之前，使用印刷墨水在卷筒纸(2)的基底或载体材料的表面上形成第一标记(4，9)，在该基底或载体材料的表面上能够采用激光光束通过移除或改变印刷墨水形成第二标记(7，10)，其中在激光工艺阶段，在使用印刷墨水印刷的所述第一标记上使用激光光束绘制第二标记，且在光学上读取使用印刷墨水印刷的第一标记(4，9)和使用激光绘制的第二标记(7，10)的位置以测量印刷墨水阶段和激光工艺阶段的对准。
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