[发明专利]硅-玻璃基梁膜结构的超微压力传感器芯片及制造方法有效

专利信息
申请号: 201310220562.2 申请日: 2013-06-05
公开(公告)号: CN103335753A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 伞海生;张鸿;张强;余煜玺 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;G01L9/06;B81C1/00;B81C3/00
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 硅-玻璃基梁膜结构的超微压力传感器芯片及制造方法,涉及一种超微压力传感器。提供一种高可靠性且适用于潮湿、酸碱、静电等恶劣环境下的具有自封装结构的硅-玻璃基梁膜结构的超微压力传感器芯片及制造方法。所述硅-玻璃基梁膜结构的超微压力传感器芯片为盒状结构,设有带空腔的基底和感压薄膜;所述感压薄膜设有凸起的梁结构,形成梁膜复合结构;所述感压薄膜的应力集中区的下表面设有连接成惠斯登电桥的4个压敏电阻,通过基底与感压薄膜的键合将压敏电阻密封于真空压力腔中;所述惠斯登电桥通过键合界面预置电极与外界实现电连接。第一阶段:SOI晶圆片上的工艺制作;第二阶段:基底部分的制备;第三阶段:键合及后续工艺。
搜索关键词: 玻璃 膜结构 压力传感器 芯片 制造 方法
【主权项】:
硅‑玻璃基梁膜结构的超微压力传感器芯片,其特征在于为盒状结构,设有带空腔的基底和感压薄膜;所述感压薄膜设有凸起的梁结构,形成梁膜复合结构;所述感压薄膜的应力集中区的下表面设有连接成惠斯登电桥的4个压敏电阻,通过基底与感压薄膜的键合将压敏电阻密封于真空压力腔中;所述惠斯登电桥通过键合界面预置电极与外界实现电连接。
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