[发明专利]防止芯片裂纹的顶针方法有效

专利信息
申请号: 201310222517.0 申请日: 2013-06-05
公开(公告)号: CN104217984B 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 马香柏 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/687 分类号: H01L21/687;H01L21/683
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 高月红
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种防止芯片裂纹的顶针方法,包括1)设计一种顶针装置,该顶针装置包括次顶针、主顶针和主次顶针控制模块,次顶针和主顶针设于主次顶针控制模块上;其中,次顶针,用于使芯片部分剥离,以减轻主顶针的负载;主顶针,用于使芯片二次剥离;主次顶针控制模块,用于控制次顶针和主顶针的操作;2)调整主次顶针均处于待用状态,并控制顶针装置上升;3)利用次顶针进行第一次剥离,使部分芯片与蓝膜相剥离;4)利用主顶针进行第二次剥离,再使芯片与蓝膜相剥离;5)经拾取头,把芯片取拾走。本发明可有效避免顶针/蓝膜的搭配所导致的芯片背面顶针裂纹。
搜索关键词: 防止 芯片 裂纹 顶针 方法
【主权项】:
一种防止芯片裂纹的顶针方法,其特征在于,包括步骤:1)设计一种顶针装置,该顶针装置包括:次顶针、主顶针和主次顶针控制模块;其中,次顶针,用于使芯片部分剥离,以减轻主顶针的负载;主顶针,用于使芯片二次剥离;主次顶针控制模块,用于控制次顶针和主顶针的操作;所述次顶针和主顶针设于主次顶针控制模块上;次顶针,以主顶针为中心均匀分布,以不超过芯片边界为限,并以芯片受力均匀为标准;次顶针的针尖为圆形或平顶的形状;主顶针,位于芯片的中心位置;主次顶针控制模块,包括:基座和控制装置;其中,基座用于设置次顶针和主顶针;控制装置用于控制主次顶针的操作顺序和位置,并且在次顶针发挥作用时,主顶针处于待用状态;在主顶针发挥作用时,次顶针处于待用状态,等一次作业完毕,主次顶针均处于待用状态;2)通过主次顶针控制模块,调整主次顶针均处于待用状态,并控制顶针装置上升;3)通过主次顶针控制模块,利用次顶针进行第一次剥离,使部分芯片与蓝膜相剥离;在次顶针进行第一次剥离时,主顶针处于待用状态,所述主次顶针控制模块使所述次顶针单独实现第一次剥离;4)通过主次顶针控制模块,利用主顶针进行第二次剥离,再使芯片与蓝膜相剥离;在主顶针进行第二次剥离时,次顶针回归待用状态,所述主次顶针控制模块使所述主顶针单独实现第二次剥离;5)经拾取头,把芯片取拾走。
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