[发明专利]防止芯片裂纹的顶针方法有效
申请号: | 201310222517.0 | 申请日: | 2013-06-05 |
公开(公告)号: | CN104217984B | 公开(公告)日: | 2018-02-06 |
发明(设计)人: | 马香柏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/683 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 高月红 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种防止芯片裂纹的顶针方法,包括1)设计一种顶针装置,该顶针装置包括次顶针、主顶针和主次顶针控制模块,次顶针和主顶针设于主次顶针控制模块上;其中,次顶针,用于使芯片部分剥离,以减轻主顶针的负载;主顶针,用于使芯片二次剥离;主次顶针控制模块,用于控制次顶针和主顶针的操作;2)调整主次顶针均处于待用状态,并控制顶针装置上升;3)利用次顶针进行第一次剥离,使部分芯片与蓝膜相剥离;4)利用主顶针进行第二次剥离,再使芯片与蓝膜相剥离;5)经拾取头,把芯片取拾走。本发明可有效避免顶针/蓝膜的搭配所导致的芯片背面顶针裂纹。 | ||
搜索关键词: | 防止 芯片 裂纹 顶针 方法 | ||
【主权项】:
一种防止芯片裂纹的顶针方法,其特征在于,包括步骤:1)设计一种顶针装置,该顶针装置包括:次顶针、主顶针和主次顶针控制模块;其中,次顶针,用于使芯片部分剥离,以减轻主顶针的负载;主顶针,用于使芯片二次剥离;主次顶针控制模块,用于控制次顶针和主顶针的操作;所述次顶针和主顶针设于主次顶针控制模块上;次顶针,以主顶针为中心均匀分布,以不超过芯片边界为限,并以芯片受力均匀为标准;次顶针的针尖为圆形或平顶的形状;主顶针,位于芯片的中心位置;主次顶针控制模块,包括:基座和控制装置;其中,基座用于设置次顶针和主顶针;控制装置用于控制主次顶针的操作顺序和位置,并且在次顶针发挥作用时,主顶针处于待用状态;在主顶针发挥作用时,次顶针处于待用状态,等一次作业完毕,主次顶针均处于待用状态;2)通过主次顶针控制模块,调整主次顶针均处于待用状态,并控制顶针装置上升;3)通过主次顶针控制模块,利用次顶针进行第一次剥离,使部分芯片与蓝膜相剥离;在次顶针进行第一次剥离时,主顶针处于待用状态,所述主次顶针控制模块使所述次顶针单独实现第一次剥离;4)通过主次顶针控制模块,利用主顶针进行第二次剥离,再使芯片与蓝膜相剥离;在主顶针进行第二次剥离时,次顶针回归待用状态,所述主次顶针控制模块使所述主顶针单独实现第二次剥离;5)经拾取头,把芯片取拾走。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造