[发明专利]一种PDLC压光效应光纤传感器及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310225135.3 申请日: 2013-06-07
公开(公告)号: CN103335758A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 周州;耿红艳;宋国峰;徐云;范志新 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01L1/25 分类号: G01L1/25;G01L11/02;G01L23/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种PDLC压光效应光纤传感器、压力检测系统及相应的制造方法,所述传感器包括光纤,光纤由纤芯和在纤芯的表面上包覆的PDLC薄膜构成;光纤的一端接收单色光,另一端出射的光入射到一个分光计;传感器还包括用于向光纤的侧面施加被测压力的施压件,分光计通过测量该光谱信号来测得所述被测压力的大小。纤芯的长度方向上包覆的PDLC的性质可以不同。本发明的光纤传感器精确、灵敏、小巧、适应性强,符合智能化的方向发展趋势,也符合PDLC应用的发展。
搜索关键词: 一种 pdlc 压光 效应 光纤 传感器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种PDLC压光效应光纤传感器,用于检测从外部施加到该光纤传感器的被测压力,包括光纤、施压件(4)和分光计(5),其特征在于:所述光纤由纤芯(1)和在纤芯(1)的表面上包覆的PDLC薄膜(2)构成;所述光纤的一端接收一束单色光,从该光纤的一端出射的光入射到所述分光计(5);所述施压件(4)用于向所述光纤的侧面施加所述被测压力;所述分光计(5)用于接收从所述光纤出射的光并测量该光的光谱信号,通过测量该光谱信号能够计算得到所述被测压力的大小。
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