[发明专利]一种差动双区域共焦轴向测量装置有效

专利信息
申请号: 201310229370.8 申请日: 2013-06-09
公开(公告)号: CN103278093A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 黄向东;谭久彬;尹可 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 张伟
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种差动双区域共焦轴向测量装置属于三维共焦显微测量领域;该差动双区域共焦轴向测量装置包括设置在直射光路上的激光器,扩束准直镜,偏正分光棱镜、1/4玻片,探测物镜和样品,从激光器发射的激光束,经扩束准直镜扩束准直后,平行穿过偏正分光棱镜,再经过1/4玻片,由探测物镜会聚到样品上;还包括设置在反射光路上的差动双区域共焦探测光路,从样品反射的光束,再依次经过探测物镜、1/4玻片,由偏正分光棱镜反射,入射到差动双区域共焦探测光路;这种设计,不仅具备更高的轴向探测灵敏度,而且能够抑制共焦系统中乘性噪声的影响;同时获得单调变化的焦平面附近轴向曲线,通过一次测量即可获得样品轴向位置。
搜索关键词: 一种 差动 区域 轴向 测量 装置
【主权项】:
一种差动双区域共焦轴问测量装置,其特征为:包括设置在直射光路上的激光器(101),扩束准直镜(102),偏正分光棱镜(103)、1/4玻片(104),探测物镜(105)和样品(106),从激光器(101)发射的激光束,经扩束准直镜(102)扩束准直后,平行穿过偏正分光棱镜(103),再经过1/4玻片(104),由探测物镜(105)会聚到样品(106)上;还包括设置在反射光路上的差动双区域共焦探测光路,从样品(106)反射的光束,再依次经过探测物镜(105)、1/4玻片(104),由偏正分光棱镜(103)反射,入射到差动双区域共焦探测光路。
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