[发明专利]O型密封圈直径测量方法及实施该方法的辅助装置有效
| 申请号： | 201310230011.4 | 申请日： | 2013-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN104132600B | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 张子明;符严平;张维浩;杨继春 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;平高集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/08 | 分类号： | G01B5/08 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司41119 | 代理人： | 陈浩 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及密封圈直径检测领域，特别是涉及一种O型密封圈直径测量方法及实施该方法的辅助装置。O型密封圈直径测量辅助装置包括底架以及防止在底架上的测量套，测量套为截头圆锥套并且自内向外逐层套在一起，相邻的两测量套中位于内层的一个的最大外径小于另一个的最小内径，每个测量套的下方均设有相应的顶升装置。在使用时候可将待测量的密封圈套在测量套上并使之自由下落，当下落到测量套外径尺寸与其内径尺寸一致时就会被撑在测量套的表面，从而便可以采用现有的如卡尺等工具来测量密封圈直径的大小，该O型密封圈直径测量辅助装置解决了目前测量O型密封圈直径的方式存在的精度差及浪费的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 密封圈 直径 测量方法 实施 方法 辅助 装置 | ||
【主权项】：
O型密封圈直径测量方法，其特征在于，使用O型密封圈直径测量辅助装置，所述辅助装置包括底架以及设置在底架上的测量套，测量套为截头圆锥套并且自内向外逐层套在一起，相邻的两测量套中位于内层的一个的最大外径小于另一个的最小内径，每个测量套的下方均设有相应的顶升装置，通过相应的顶升装置将符合大小要求的测量套顶起，包括以下步骤：1）将待测O型密封圈套在一个截头圆锥套上并使其自由下落；2）通过相应的工具测量待测O型密封圈的外径并以此来得到待测O型密封圈的直径。
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