[发明专利]一种基于自适应技术的二维平面采样方法

摘要

本发明涉及一种基于自适应技术的二维平面采样方法，首先使用均匀的稀疏网格进行一次采样，由评估算法对采样结果进行评价，得到具有不同频率范围的分区域，对各分区域的网格测量点进行替换；然后由新生成的网格对采样物体的表面进行二次采样，再次使用评估算法对测量结果进行评价，根据频率的高低对网格进行修正；如此反复进行修正，直到通过评估算法为止。最后由测量系统根据此测量网格对需采样物体表面进行采样。本发明能保证采样点个数最少，也能保证相同采样点个数情况下，采样效果最佳。

主权项

1.一种基于自适应技术的二维平面采样方法，其特征在于实现步骤如下：步骤S01：使用初始均匀采样网格点对物体形貌进行第一次采样，并将采样结果保存；步骤S02：由评估算法对采样结果进行评价，根据物体形貌的频率带宽特性对整个采样区域进行分割，得到具有不同频率范围的分区域，并对各个分区域进行频谱量化，得到分区域的频谱量化值f；步骤S03：首先以步骤S02中得到的分区域频谱量化值f为依据，按照分区域的网格测量点的点间距的规则，利用模板拼接技术对步骤S02中各分区域的网格测量点进行替换，再使用模板拼接技术将各分区域的新网格测量点拼接在一起得到新修正的采样网格点；步骤S04：由步骤S03中得到的新修正的采样网格点对采样物体的表面进行第二次采样，将采样结果保存；步骤S05：采用仲裁函数对步骤S04中的采样结果进行仲裁，仲裁通过则转到步骤S06，若无法通过，则转到步骤S02；步骤S06：使用通过仲裁函数的测量网格对物体表面进行采样，得到使用基于自适应技术的二维平面采样方法采集的数据点。