[发明专利]沟槽的制造方法有效
申请号: | 201310234433.9 | 申请日: | 2013-06-13 |
公开(公告)号: | CN104241189B | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | 陈俊旭;李书铭 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L21/306 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 姚亮 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种沟槽的制造方法。该方法包括以下步骤提供一基板;形成至少一绝缘层于所述基板之上;形成一硬罩幕层于所述绝缘层之上;图案化所述硬罩幕层,以得到具有一开口的图案化硬罩幕层;进行一第一蚀刻步骤,沿着所述开口蚀刻所述绝缘层,以形成一沟槽;填充一光阻于所述沟槽中与所述图案化硬罩幕层之上;进行一第二蚀刻步骤,以蚀刻部分的所述图案化硬罩幕层且曝露出所述图案化硬罩幕层;进行一第三蚀刻步骤,以移除所述图案化硬罩幕层;以及进行一第四蚀刻步骤,以移除所述光阻。采用本发明的沟槽的制造方法在蚀刻步骤所产生的高分子可轻易提供硫酸移除,且不会伤害绝缘层。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽的制造方法,包括以下步骤:提供一基板;形成至少一绝缘层于所述基板之上;形成一硬罩幕层于所述绝缘层之上;图案化所述硬罩幕层,以得到具有一开口的图案化硬罩幕层;进行一第一蚀刻步骤,沿着所述开口蚀刻所述绝缘层,以形成一沟槽;填充一光阻于所述沟槽中与所述图案化硬罩幕层之上;进行一第二蚀刻步骤,以蚀刻部分的所述图案化硬罩幕层且曝露出所述图案化硬罩幕层;进行一第三蚀刻步骤,以移除所述图案化硬罩幕层;以及进行一第四蚀刻步骤,以移除所述光阻;其中,所述第二蚀刻步骤、所述第三蚀刻步骤与所述第四蚀刻步骤是于同一反应腔体中连续进行,且所述基板在所述第二蚀刻步骤至所述第三蚀刻步骤之间,以及在所述第三蚀刻步骤至所述第四蚀刻步骤之间皆未移出所述反应腔体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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