[发明专利]一种原位沉积阻挡层和籽晶层的系统和方法有效
申请号: | 201310235743.2 | 申请日: | 2013-06-15 |
公开(公告)号: | CN103337469A | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
发明(设计)人: | 卢红亮;耿阳;杨雯;孙清清;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/768;H01L21/3205 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于半导体技术领域,具体涉及一种原位沉积阻挡层和籽晶层的系统和方法。本发明提出的原位沉积系统包括沉积系统,进气、排气系统,管路控制系统,等离子体发生系统等。本发明所提出的采用原位沉积的铜互连流程包括:刻蚀出需要沉积的沟槽;转移到原位沉积腔后顺次通入五(二甲胺基)钽和含氮等离子体进行氮化钽扩散阻挡层的沉积;原位顺次通入二(六氟乙酰丙酮)化铜和二乙基锌进行铜籽晶层的沉积;取出硅片进行电化学沉积铜;化学机械抛光去除多余的铜。 | ||
搜索关键词: | 一种 原位 沉积 阻挡 籽晶 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种原位沉积阻挡层和籽晶层的系统,其特征在于包含:(1)至少一个沉积腔;(2)至少一套进气系统、排气系统;(3)至少一套等离子体发生系统;(4)至少一套气动阀管道控制系统;进气系统、排气系统分别与沉积腔连接,分别用以输入反应气体和排出反应后废气;等离子体发生系统接在进气系统上,用以产生含氮的等离子体反应气,降低反应温度;气动阀管道控制系统连接到进气、排气系统各路管道,用以实现管道开闭和气流量的自动化控制。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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