[发明专利]测试分选机用插件有效
| 申请号： | 201310240747.X | 申请日： | 2013-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN103586214A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 柳晛准;黄正佑 | 申请（专利权）人： | 泰克元有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/00 | 分类号： | B07C5/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 金光军;李柱天 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试分选机用插件。本发明公开了一种通过过盈插入或熔接而将支撑部件固定于插件的主体，从而可以实现用于将支撑部件挤向插件主体侧的固定部件的挤压部分厚度最小化的技术。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 分选 插件 | ||
【主权项】：
一种测试分选机用插件，其特征在于，包括：主体，形成有用于插入半导体元件的插入孔；支撑部件，从所述插入孔的一侧支撑插入于所述插入孔中的半导体元件；固定部件，具有通过向所述主体侧挤压所述支撑部件而将所述支撑部件固定于所述主体的挤压部分；其中，所述支撑部件上形成有用于将半导体元件的端子向测试机侧开放的开放孔，以使被所述支撑部件支撑的半导体元件的端子电连接于测试机侧，而且，所述固定部件的挤压部分具有向测试机侧突出的厚度大于0.00mm而小于0.25mm的薄板形态。
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