[发明专利]一种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310244303.3 申请日: 2013-06-18
公开(公告)号: CN103674669A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 金献忠;张建波;谢健梅;应海松;林力;陈建国 申请(专利权)人: 宁波检验检疫科学技术研究院
主分类号: G01N1/36 分类号: G01N1/36;G01N27/62
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 315012 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及种LA-ICP-MS法测定细丝样品中各元素的装置及方法。解决现有对细丝样品分析的方法中,细丝样品只能平放,端面无法朝上,不能使得激光脉冲能打到样品端面上的问题。装置包括紫外激光剥蚀固体进样系统、电感耦合等离子体质谱仪,以及设置在样品池内夹持细丝样品的夹具。本发明的优点是:结构简单,使用方便,且更换快速;能够使得样品在样品池内竖起来,确保激光脉冲能打到样品的端面上;整个夹具没有棱角或凹槽,不吸附气溶胶。
搜索关键词: 一种 la icp ms 测定 细丝 样品 元素 装置 方法
【主权项】:
一种LA‑ICP‑MS法测定细丝样品中各元素的装置,包括紫外激光剥蚀固体进样系统、电感耦合等离子体质谱仪,以及设置在样品池内夹持细丝样品的夹具,其特征在于:夹具包括夹具柱体(1)和罩在夹具柱体上的盖体(4),在夹具柱体的上表面上设置有凹槽(2),在凹槽内设置有两个滑块(3),所述滑块具有夹持面(6),两滑块的夹持面紧密相贴合,在两滑块夹持面相对的背面上分别设置有推动滑块的推力机构,在所述盖体上设有用于穿置细丝样品的通孔(5)。
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