[发明专利]液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201310244484.X 申请日: 2013-06-19
公开(公告)号: CN103345077A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 赵国栋;刘一俊;陈方甫;马涛;宋涛;刘明 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 蔡晓红
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种液晶显示模组的质量检测装置及其使用方法,该质量检测装置包括设置在待检测的液晶显示模组上的多个测试点、与所述多个测试点分别电性连接的多个探针、用于驱动多个探针移动的驱动装置以及与所述多个探针电性连接的检测设备;当对液晶显示模组进行检测时,驱动装置驱动多个探针移动到预定位置,分别与对应的测试点接触而形成电连接,探针将所述测试信号通过测试点输入至液晶显示模组中进行检测,检测设备接收及处理液晶显示模组对应测试信号产生的反馈信号,并据此判断液晶显示模组的质量指标。实施本发明可减少因人员熟练程度不同导致的作业时间差异以及数据线和连接器的损坏。
搜索关键词: 液晶显示 模组 质量 检测 装置 及其 使用方法
【主权项】:
一种液晶显示模组的质量检测装置,其特征在于,包括设置在待检测的液晶显示模组上的多个测试点、与所述多个测试点分别电性连接的多个探针、用于驱动所述多个探针移动的驱动装置以及与所述多个探针电性连接的检测设备;当对所述液晶显示模组进行检测时,驱动装置驱动所述多个探针移动到预定位置,分别与所述对应的测试点接触而形成电连接,所述探针将测试信号通过所述测试点输入至所述液晶显示模组中对所述液晶显示模组进行检测,所述检测设备接收及处理所述液晶显示模组对应所述测试信号产生的反馈信号以判断液晶显示模组的质量指标。
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