[发明专利]联合测试行为组织串联链中器件的测试方法有效
| 申请号： | 201310250703.5 | 申请日： | 2013-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN104237666B | 公开（公告）日： | 2017-05-03 |
| 发明（设计）人： | 朱维良;韩桂丽;刘明 | 申请（专利权）人： | 京微雅格（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 100083 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种联合测试行为组织串联链中器件的测试方法，该方法包括重置JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据；在TCK节拍下，输入长度为2N的第一数据流，同时移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第一输出序列；在TCK节拍下，输入长度为2N的第二数据流，同时移位出各指定寄存器中的二进制数据流，得到第二输出序列；计算出JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M并计算出各个器件的指令寄存器的宽度；选中目标器件并读取选中的目标器件中的唯一标识寄存器ID中的数据。本发明提供的方法通过输入特定的二进制数据流，能自动计算出JTAG串联链中各器件的指令寄存器的宽度，从而实现对目标器件的编程与测试。 | ||
| 搜索关键词： | 联合 测试 行为 组织 串联 器件 方法 | ||
【主权项】：
一种联合测试行为组织串联链中器件的测试方法，其特征在于，该方法包括：(1)重置联合测试行为组织JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据；(2)在JTAG的状态为移位指令SHIFT_IR时，在测试时钟TCK节拍的控制下，通过JTAG串联链的测试数据输入TDI口，输入长度为2N的第一数据流，同时通过JTAG串联链的测试数据输出TDO口移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第一输出序列；(3)重置JTAG串联链及串联链中各器件的数据寄存器和指令寄存器中的数据，在JTAG的状态为移位指令SHIFT_IR时，在TCK节拍的控制下，通过JTAG串联链的TDI口，输入长度为2N的第二数据流，同时通过JTAG串联链的TDO口移位出各指令寄存器中的二进制数据流，得到第二输出序列；(4)根据所述第一输出序列和第二输出序列，计算出所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M；(5)根据所述第一输出序列，第二输出序列和所述计算出的所述JTAG串联链中所有器件的指令寄存器的宽度之和M，计算出各个器件的指令寄存器的宽度；(6)通过输入M位特定的二进制数据流，选中目标器件，其中，在所述M位特定的二进制数据流中，与选中的目标器件的位置对应的字段为与选择唯一标识指令相对应的二进制数据；(7)在JTAG的状态为捕获数据CAPTURE_DR时，将各器件的数据寄存器连接到TDI和TDO之间；在JTAG的状态为移位数据SHIFT_DR时，在TCK节拍的控制下，通过JTAG的TDO口移位出各器件的数据寄存器中的数据。
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