[发明专利]一种高稳定性的薄膜电阻器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310250721.3 申请日: 2013-06-21
公开(公告)号: CN103325507B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 杨俊锋;庄严;庄彤;冯毅龙;丁明健;李杰成 申请(专利权)人: 广州天极电子科技有限公司
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C7/06
代理公司: 广州圣理华知识产权代理有限公司44302 代理人: 李唐明
地址: 510000 广东省广州市海珠区大干围*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种高稳定性的薄膜电阻器及其制造方法,其中,薄膜电阻器由基板,附着于基板上表面的薄膜电阻层,附着于基板下表面的下电极,以及附着于薄膜电阻层上表面的上电极组成。其方法是通过对电阻器的电阻温度系数进行特殊的控制,从而大幅降低电阻温度系数的薄膜电阻器。本发明解决现有薄膜电阻器稳定性比较差,不能满足高稳定性的要求的技术问题。本发明具有精度高、频率高,以及体积小等优点。
搜索关键词: 一种 稳定性 薄膜 电阻器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种高稳定性的薄膜电阻器,其特征在于:所述高稳定性的薄膜电阻器由基板,附着于基板上表面的薄膜电阻层,附着于基板下表面的下电极,以及附着于薄膜电阻层上表面的上电极组成;所述薄膜电阻层由AlN薄膜层和TaN薄膜层组成;所述AlN薄膜层附着于基板的上表面,所述TaN薄膜层附着于AlN薄膜层的上表面;所述上电极附着于TaN薄膜层的上表面;所述上电极由两块组成;电极块之间通过TaN薄膜层连接在同一个表面上;所述膜电阻器的电阻温度系数为零0±30ppm/℃。
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