[发明专利]重采样用于串行数据链路分析的多个S-参数的方法及装置有效
| 申请号： | 201310255801.8 | 申请日： | 2013-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN103514305B | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | K.谭;J.J.皮克德 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G06F17/40 | 分类号： | G06F17/40 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 方世栋;王忠忠 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了重采样用于串行数据链路分析的多个S‑参数的装置和方法。所述方法包括：存储多个S‑参数集合，每个S‑参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔。基于与每个S‑参数集合相关联的时间间隔确定增加的时间间隔。在每个S‑参数集合中对所述脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔。以更精细的频率分辨率生成多个重采样的S‑参数集合以覆盖所述增加的时间间隔。 | ||
| 搜索关键词： | 参数集合 重采样 串行数据链路 脉冲响应 关联 频率分辨率 波纹 存储 分析 精细 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种重采样用于串行数据链路分析的多个S-参数的方法，所述方法包括：存储多个S-参数集合，每个S-参数集合与子系统相关联并且具有关联的脉冲响应和时间间隔；基于与每个S-参数集合相关联的时间间隔确定增加的时间间隔；在每个S-参数集合中对所述脉冲响应填零以维持任何覆叠的波纹并且增加所述时间间隔，以及以更精细的频率分辨率生成多个重采样的S-参数集合以覆盖所述增加的时间间隔。
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