[发明专利]测量装置及测量方法有效
申请号: | 201310261051.5 | 申请日: | 2010-03-31 |
公开(公告)号: | CN103344803A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 青木和典 | 申请(专利权)人: | 安立股份有限公司 |
主分类号: | G01R13/02 | 分类号: | G01R13/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 李芳华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种测量装置及测量方法,以简单的机构且可连续地在一连串的标记操作中转换粗调整、微调整而顺利地进行波形标记的位置(移动)调整。显示控制器在由第1轴和与该第1轴正交的第2轴构成的2维坐标上将测量波形显示于显示器。波形标记可通过对应于与所述第1轴平行的方向的标记操作而移动。所述显示控制器具有检测对应于与所述第2轴平行的方向的所述标记操作的检测器,并且根据该检测器的检测结果变更所述波形标记的设定或所述测量波形的显示范围的任意一个。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
一种测量装置,包括:用户I/F器,具有操作器和显示器;测量器,测量被测量物或被测量信号;以及显示控制器,根据由所述测量器得到的测量数据,将测量波形显示于所述显示器,并且将可根据来自所述用户I/F器的标记操作移动的波形标记重叠于所述测量波形而显示,所述显示控制器在由第1轴和与该第1轴正交的第2轴构成的2维坐标上将所述测量波形显示于所述显示器,所述波形标记可通过对应于与所述第1轴平行的方向的所述标记操作移动,其特征在于,所述显示控制器,具有检测对应于与所述第2轴平行的方向的所述标记操作的检测器,并且,根据该检测器的检测结果变更所述波形标记的设定或所述测量波形的显示范围的任意一个,所述显示控制器检测从显示所述显示器的所述测量波形的波形显示区域中开始沿与所述第2轴平行的方向的所述标记操作时的初始位置到沿与所述第2轴平行的方向实际上进行所述标记操作时的操作位置的相对距离,然后,检测进行使所显示的所述波形标记沿与所述第1轴平行的方向移动的所述标记操作时的沿与该第1轴平行的方向的操作量,基于对应于该操作量以及所述相对距离的移动变化量而使所述波形标记移动。
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