[发明专利]一种基于双压缩符合测量的纠缠成像系统及方法有效

专利信息
申请号: 201310268472.0 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN103308189A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 俞文凯;刘雪峰;孙志斌;翟光杰 申请(专利权)人: 中国科学院空间科学与应用研究中心
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 代理人: 杨小蓉;杨青
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及基于双压缩符合测量的纠缠成像系统,包括激光器、非线性晶体、窄带滤光片、分束器、第一组成像透镜、第二组成像透镜、第一空间光调制器、第二空间光调制器、第一组会聚收光透镜、第二组会聚收光透镜、第一点探测器、第二点探测器、符合测量电路以及算法模块;激光器产生泵浦光,经非线性晶体生成纠缠光子对,通过窄带滤光片后被分束器分成信号光路和闲置光路,分别投射到第一空间光调制器和第二空间光调制器上;对光进行调制,调制后的光收集到第一点探测器、第二点探测器上,转为电信号,输入符合测量电路,输出符合测量值,算法模块根据测量矩阵和测量值,运用压缩感知算法重建空间关联系数分布。
搜索关键词: 一种 基于 压缩 符合 测量 纠缠 成像 系统 方法
【主权项】:
一种基于双压缩符合测量的纠缠成像系统,其特征在于,包括激光器(1)、非线性晶体(2)、窄带滤光片(3)、分束器(4)、第一组成像透镜(5‑1)、第二组成像透镜(5‑2)、第一空间光调制器(6‑1)、第二空间光调制器(6‑2)、第一组会聚收光透镜(7‑1)、第二组会聚收光透镜(7‑2)、第一点探测器(8‑1)、第二点探测器(8‑2)、符合测量电路(9)以及算法模块(10);其中,所述激光器(1)产生泵浦光,经所述非线性晶体(2)的自发参量下转换SPDC生成纠缠光子对,通过所述窄带滤光片(3)后被所述分束器(4)分成信号光路和闲置光路,然后分别由所述第一组成像透镜(5‑1)、第二组成像透镜(5‑2)将光投射到所述第一空间光调制器(6‑1)和第二空间光调制器(6‑2)上;所述第一空间光调制器(6‑1)和第二空间光调制器(6‑2)在所加载的二值随机矩阵的控制下对所接收的光进行调制,然后由所述第一组会聚收光透镜(7‑1)、第二组会聚收光透镜(7‑2)分别将所述第一空间光调制器(6‑1)和第二空间光调制器(6‑2)调制后的光收集到所述第一点探测器(8‑1)、第二点探测器(8‑2)上,由所述第一点探测器(8‑1)、第二点探测器(8‑2)将其转为电信号,所得到的电信号输入所述符合测量电路(9),由所述符合测量电路(9)输出符合测量值,最后所述算法模块(10)根据推算出的测量矩阵和测量值,运用压缩感知算法重建空间关联系数分布。
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