[发明专利]隐身材料太赫兹反射率的测量系统有效
| 申请号： | 201310269542.4 | 申请日： | 2013-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN103335951A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 周逊;郭超;罗振飞;李赜宇;王度;张庆伟 | 申请（专利权）人： | 成都精密光学工程研究中心 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 徐丰;杨保刚 |
| 地址： | 610041 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种隐身材料太赫兹反射率的测量系统，包括放置待检测隐身材料的样品台；太赫兹激光器；太赫兹光分束的分束镜；太赫兹功率计；太赫兹探测器；平行太赫兹光进行反射的反射镜，反射后的太赫兹光聚焦到待检测隐身材料的离轴抛面镜，以及对太赫兹激光的准直和辅助观察的HeNe激光器。用此系统可对隐身材料太赫兹反射率进行准确的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 隐身 材料 赫兹 反射率 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种隐身材料太赫兹反射率的测量系统，其特征在于包括：太赫兹激光器，用于发出太赫兹激光；分束镜，将激光分成两束；样品台，放置待检测物品；功率计，测量太赫兹功率；离轴抛物面镜，对太赫兹激光聚焦到所述功率计上；太赫兹探测器，测量所述分束镜分出的小部分太赫兹激光； 所述的太赫兹激光器发出的太赫兹激光，经过分束镜，激光被分为两束，一束为透射光，入射到待测隐身材料样品表面，反射波由离轴抛物面镜收集并聚焦到功率计上；另一束为反射光，被太赫兹探测器接收。
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