[发明专利]用于X射线检测器的电子可变增益在审
申请号: | 201310270813.8 | 申请日: | 2013-07-01 |
公开(公告)号: | CN103575753A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | K.达米安 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 封新琴 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种电子电路(150),用于处理由X射线检测器阵列(110)测量的电子测量数据,所述X射线检测器阵列配置成用于检测X射线并且具有响应传播到所述检测器阵列(110)上的X射线生成电子测量数据的多个检测器像素(102),所述电子电路(150)包括:测量数据接收接口(152),所述测量数据接收接口配置成用于接收来自所述检测器像素(102)的电子测量数据作为模拟信号;模拟增益调节单元(154),所述模拟增益调节单元配置成用于根据可调节模拟增益值操纵所述模拟信号;以及处理器(156、166),用于在所述操纵之后处理所述电子测量数据。 | ||
搜索关键词: | 用于 射线 检测器 电子 可变 增益 | ||
【主权项】:
一种电子电路(150),所述电子电路用于处理由X射线检测器阵列(110)测量的电子测量数据,所述X射线检测器阵列配置成用于检测X射线,并且具有响应传播到所述检测器阵列(110)上的X射线生成电子测量数据的多个检测器像素(102),所述电子电路(150)包括:测量数据接收接口(152),所述测量数据接收接口配置成用于接收来自所述检测器像素(102)的电子测量数据作为模拟信号;模拟增益调节单元(154),所述模拟增益调节单元配置成用于根据可调节模拟增益值操纵所述模拟信号;处理器(156、166),用于在所述操纵之后处理所述电子测量数据。
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