[发明专利]具有单多晶硅层存储器单元的非易失性存储器器件有效

专利信息
申请号: 201310273190.X 申请日: 2013-06-25
公开(公告)号: CN103515393B 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: F·托里切利;L·科拉朗奥;A·里奇利;Z·科瓦克斯-瓦杰纳 申请(专利权)人: 意法半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L29/423;H01L29/788;G11C16/04
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 王茂华
地址: 意大利阿格*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种非易失性存储器器件,包括本体(12),至少容纳第一半导体阱(14)和第二半导体阱(15);绝缘结构(27);以及至少一个非易失性存储器单元(2,2’)。该单元(2,2’)包括在第一阱(14)中的至少一个第一控制区域(16);在第二阱(15)中的传导区域(18‑20);以及浮置栅极区域(23),其在第一阱(14)和第二阱(15)的一部分之上延伸,电容性地耦合到第一控制区域(16)并且与传导区域(18‑20)一起形成浮置栅极存储器晶体管(30)。绝缘结构(27)包括第一绝缘区域(28),其将浮置栅极区域(23)与第一控制区域(16)以及与传导区域(18‑20)分开,并且具有第一厚度(D1);以及第二绝缘区域(29),其将浮置栅极区域(23)与第一控制区域(16)外部的第一阱(14)分开,并且具有大于第一厚度(D1)的第二厚度(D2)。
搜索关键词: 具有 多晶 存储器 单元 非易失性存储器 器件
【主权项】:
一种非易失性存储器器件,包括:本体(12),容纳半导体材料的至少第一阱(14)和至少第二阱(15);绝缘结构(27);以及至少非易失性存储器单元(2,2’);其中所述存储器单元(2,2’)包括:容纳在所述第一阱(14)中的至少第一控制区域(16);容纳在所述第二阱(15)中的传导区域(18‑20);以及浮置栅极区域(23),其在所述第一阱(14)的一部分和所述第二阱(15)的一部分上延伸,电容性地耦合到所述第一控制区域(16)并且与所述传导区域(18‑20)一起形成浮置栅极存储器晶体管(30);并且其中所述绝缘结构(27)包括:第一绝缘区域(28),将所述浮置栅极区域(23)与所述第一控制区域(16)以及与所述传导区域(18‑20)分开,并且具有第一厚度(D1);以及第二绝缘区域(29),将所述浮置栅极区域(23)与所述第一控制区域(16)外部的所述第一阱(14)分开,并且具有大于所述第一厚度(D1)的第二厚度(D2)。
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