[发明专利]基于测试码间距离的伪随机低功耗测试方法无效

专利信息
申请号: 201310274571.X 申请日: 2013-07-02
公开(公告)号: CN103344907A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 吴悦;顾苏贇;张鼎;徐拾义 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于距离假设的伪随机低功耗测试方法。其测试如下:一,在函数F的输入组合中随机选择一个输入向量,作为第1个测试码,记为t0;二,对测试码t0按位取反(记为),取t1=作为第2个测试码;三,从函数F对应的生成矩阵中选取第2i个测试码t2ii=1,...,k,k是预设需要产生的测试码的数量),以保持和之前产生的测试码之间的TCD(t2i)等于一个预先设定的值。并对它取反,作为第2i+1个测试码t2i+1,最后将这两个测试码一起添加到测试集合M中;四,重复3,直到所有需要的测试码选取结束为止;5,对测试集合M中的测试码进行排序。相比传统随机测试,本发明可以用更少的测试码达到相同的故障覆盖率,并通过对测试码进行排序,大幅降低测试功耗。
搜索关键词: 基于 测试 间距 随机 功耗 方法
【主权项】:
1.基于测试码间距离的伪随机低功耗测试方法,其特征在于:测试步骤如下:步骤1:在函数F的输入组合中随机选择一个输入向量,作为第1个测试码,记为t0;步骤2:对测试码t0按位取反(记为),取t=作为第2个测试码;步骤3:从函数F对应的生成矩阵中选取第2i个测试码t2i=1,...,kk是预设需要产生的测试码的数量),以保持和之前产生的测试码之间的TCD(t2i)等于一个预先设定的值。并对它取反,作为第2i+ 1个测试码t2i+ 1,最后将这两个测试码一起添加到测试集合M中;步骤4:重复步骤3。直到所有需要的测试码选取结束为止。步骤5:对测试集合M中的测试码进行排序。
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