[发明专利]堆叠纳米线MOS晶体管及其制作方法在审
申请号: | 201310274960.2 | 申请日: | 2013-07-02 |
公开(公告)号: | CN104282559A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
发明(设计)人: | 殷华湘;马小龙;徐唯佳;徐秋霞;朱慧珑 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/10;B82Y10/00 |
代理公司: | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种堆叠纳米线MOS晶体管及其制作方法,包括:由多个纳米线上下层叠构成的串珠状的纳米线堆叠,在衬底上沿第一方向延伸;多个栅极堆叠,沿第二方向延伸并且跨越了每个纳米线堆叠;多个源漏区,位于每个栅极堆叠沿第二方向两侧;多个沟道区,由位于多个源漏区之间的纳米线堆叠构成。依照本发明的堆叠纳米线MOS晶体管及其制作方法,通过多次回刻、侧向刻蚀沟槽并填充,形成了质量良好的串珠状的纳米线堆叠,以较低的成本充分增大导电沟道有效宽度,并且提高了有效导电总截面面积,从而提高驱动电流。 | ||
搜索关键词: | 堆叠 纳米 mos 晶体管 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种堆叠纳米线MOS晶体管制作方法,包括:在衬底上形成沿第一方向延伸的多个鳍片;在每个鳍片中形成由多个纳米线上下层叠构成的串珠状的纳米线堆叠;在纳米线堆叠上形成沿第二方向延伸的栅极堆叠结构;在栅极堆叠结构两侧形成源漏区,源漏区之间的纳米线构成沟道区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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