[发明专利]电子控制装置及其控制特性调整方法

摘要

本发明的电子控制装置及其控制特性调整方法在由折线特性表示的特定传感器中设置用于校正检测信号的固体偏差变动的标签电阻，以较低的成本来得到高精度的校正信号。将多个样本的平均特性即标准特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将成为比较调整点的第1、第2直线的坐标点位置作为标准数据保存于电子控制装置的数据存储器中。将作为校正对象的现有样本特性近似为由第1直线、第2直线、第3直线组成的折线，将第1标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值，将第2标签电阻的电阻值调整为与监视输出的比率相对应的值。电子控制装置读取标签电阻的电阻值，并与所保存的标准特性进行组合，插补第3直线部分来还原并生成现有样本特性。

主权项

一种电子控制装置，包括微处理器，该微处理器与输入传感器组的动作状态及程序存储器的内容进行联动，从而对电负载组进行驱动控制，并且，在所述电子控制装置中，所述输入传感器组的一部分特定传感器具有用于校正传感器检测特性的固体偏差变动的标签电阻，或者，所述电负载组中的一部分特定负载具有用于校正输出特性的固体偏差变动的标签电阻，所述电子控制装置的特征在于，所述微处理器还与用于运算处理的RAM存储器、作为所述程序存储器的一部分区域的或分开设置的非易失性数据存储器、以及AD转换器相连接并相互联动，并且，所述程序存储器或数据存储器中以规定数据形式保存有多个样本的实验数据的平均特性数据即所述特定传感器的标准检测特性数据、或者所述特定负载的标准输出特性数据即标准特性数据，所述检测特性或输出特性的2次微分值具有不进行正负翻转的单调递增特性或单调递减特性，近似于至少一对以上的折线特性，所述程序存储器或数据存储器中还保存有插补信息，该插补信息用于填补近似于折线特性的所述标准特性数据、与实际的标准特性数据之间的误差，所述程序存储器包含成为标签电阻读取转换单元的控制程序，所述标签电阻读取转换单元参照与所述标签电阻串联连接的串联电阻的电阻值、以及该标签电阻的两端电压及施加在串联电路上的电压即控制电压，来计算该标签电阻的电阻值，并基于所计算出的电阻值来计算所述特定传感器的检测特性、或用于修正所述特定负载的输出特性的固体偏差变动的修正常数，并将其保存到所述数据存储器或所述RAM存储器中，所述修正常数是以所述标准特性数据为基准的所述特定传感器的个别检测特性数据，或是用于确定所述特定负载的个别输出特性数据即个别特性数据的一对调整倍率，或是一对调整加法运算值，又或是将调整倍率与调整加法运算值进行复合后得到的数据，所述调整倍率是通过与所述标准特性数据相乘从而得到所述个别特性数据的修正常数，是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对比率即调整系数，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对比率即斜率系数，所述调整加法运算值是通过与所述标准特性数据进行代数加法运算从而得到所述个别特性数据的修正常数，是规定的调整比较点上的所述个别特性数据与标准特性数据之间的相对偏差即偏置调整值，或者是与规定的调整比较点上的所述个别特性数据和标准特性数据之间的变化率相关的相对偏差即斜率调整值，所述标签电阻读取转换单元在电源开关接通后的运行开始时执行，或是在对所述特定传感器或所述特定负载进行维护更换时执行，对所述修正常数是由所述调整系数和所述偏置调整值中的哪一个与所述调整系数、或与所述斜率系数、或与所述偏置调整值、或与所述斜率调整值的组合来构成的进行识别，并将所识别出的修正常数及所述特定传感器或所述特定负载的所述标准特性数据、与所述插补信息进行组合，从而还原并生成所述个别特性数据，所述微处理器参照所生成的所述个别检测特性数据来对所述电负载组进行驱动控制，或者参照所生成的所述个别输出特性数据来对所述特定负载进行驱动控制。