[发明专利]双模折反射式共探测器成像系统有效
| 申请号： | 201310275716.8 | 申请日： | 2013-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN103345051A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 付强;张新;史广维;王灵杰;张建萍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G02B17/08 | 分类号： | G02B17/08 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130000 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 双模折反射式共探测器成像系统属于光学技术领域，该系统包括：主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器；所有部件皆为同光轴放置；其中，主镜和次镜为卡塞格林结构；主镜有中心孔，次镜放置在主镜的前方，中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方；次镜为曼金镜，其前表面反射中波红外，透射长波红外；后表面反射长波红外；次镜两个反射面的设置使得中波红外和长波红外的光程相等，以使得中波红外和长波红外在不调焦的情况下成像在同一焦平面上。该系统可以实现双波段工作，长焦距、大相对孔径成像，结构紧凑，畸变小，传递函数达到或接近衍射极限，冷阑匹配达到100%。 | ||
| 搜索关键词： | 双模 反射 探测器 成像 系统 | ||
【主权项】：
双模折反射式共探测器成像系统，其特征在于，该系统包括：主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器；所有部件皆为同光轴放置；其中，主镜和次镜为卡塞格林结构；主镜有中心孔，次镜放置在主镜的前方，中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方；来自物方的光束经主镜反射后入射到次镜上，由次镜反射聚焦，使得目标成像在第一像面上；再由中继镜组将第一像面上的目标转像，通过焦平面探测器聚焦；次镜前表面反射中波红外，透射长波红外；后表面反射长波红外；长波红外再次通过前表面回到光路中。
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