[发明专利]直线式离子阱及质量分析器系统和方法有效

专利信息
申请号: 201310275894.0 申请日: 2003-12-31
公开(公告)号: CN103354203A 公开(公告)日: 2013-10-16
发明(设计)人: 罗伯特.G.库克斯;欧阳政 申请(专利权)人: 珀杜研究基金会
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 曲莹
地址: 美国印*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种直线式离子阱及质量分析器系统和方法。一种新形状的离子阱及其作为质谱仪的使用。可以线性地及并联地组合离子阱而形成用于质量储存、分析、打断、分隔等的系统。离子阱具有简单的直线几何形状,并具有高的陷获能力。它可操作为既在质量选择稳定模式下也在质量选择不稳定模式下提供质量分析。多个离子阱的阵列允许对陷获离子应用多个气相过程的组合以在离子分析中达到高灵敏度、高选择性及/或更高的处理量。
搜索关键词: 直线 离子 质量 分析器 系统 方法
【主权项】:
一种多阶段离子处理系统,包括:至少三个直线式离子阱,每个包括:设置在zx和zy平面上间隔的x和y对平面电极以限定一陷获体积,每个平面电极具有平行于间隔的x和y对平面电极中的x方向电极或者y方向电极的狭缝;RF电压源,其用于在间隔的x和y对平面电极之间施加RF电压以在xy平面上产生RF陷获场;在由所述间隔的x和y对平面电极限定的陷获体积内的末端的、设置在xy平面内的平面端电极;DC电压源,其用于向至少所述平面端电极上施加DC电压以沿z轴提供DC陷获场,由此离子被陷获在该陷获体积内;及AC电压源,其用于向所述间隔的x和y对平面电极中的可选的一对施加AC电压以在相应的zx或zy平面内激发离子,所述直线式离子阱取向为所述多个离子阱的第一离子阱的狭缝中的一个狭缝设置为与所述多个离子阱的第二离子阱的相应的狭缝相对,其中所述三个或多个直线式离子阱被以串联和并联阵列组合。
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